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  • 线扫激光结构光成像

  • 双目结构，最优基线比设计，满足高精度数据采集要求

  • 超长基线，适用于超大视野、远距离、大景深、大型工件识别定位

  • 适用于各种颜色的工件及高反光工件的识别定位

  • 抗高亮环境光干扰，可在100000Lux光照度下稳定运行

  • 防护等级IP65

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