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  • 面扫条纹光栅结构光成像

  • 双目结构，最优基线比设计，满足高精度测量要求

  • 适用于各种颜色工件及一定程度反光工件的识别定位

  • 适用于工件表面圆孔、椭圆孔、螺纹孔、矩形孔的几何尺寸（长、宽、直径等）及形位公差（位置度等）的近距离测量

  • 对环境光具备良好适应性，可在60000Lux光照度下稳定运行

  • 防护等级IP65

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